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《中国测试》第五届全国编委会暨创刊40周年学术研讨会
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《中国测试》第五届全国编委会暨创刊40周年学术研讨会已过期

发票类型:增值税普通发票 增值税专用发票

        会议通知


        适逢《中国测试》创刊40周年,为进一步发挥《中国测试》期刊的学术平台作用,更全面、深入地服务全国各行业测试科学技术的发展。经研究决定,我社定于2015年7月10日-7月12日在云南昆明召开“ 《中国测试》第五届全国编委会暨创刊40周年学术研讨会”。
        光学测试
        《中国测试》以积极跟踪和传播基于现代产业的测试方法与技术标准研究为宗旨,广泛报道各学科最新测试方法、技术标准研究动态与发展状况,专注致力于推动各学科测试技术,更好地服务和支撑现代产业的发展。随着“中国 制造2025”战略规划的出台, 互联网+的概念不断深入,学术界对在新的历史时期条件下,测试科学与测试技术的发展也提出了相应的思考。

        主办方:

        会议日程

        (最终日程以会议现场为准)


        会议

        佳宾

        嘉宾

        生物工程研究所 副所长

        会议嘉宾

        (最终出席嘉宾以会议现场为准)


        名誉

        名誉

        会议门票


        会议场地:怡景园酒店

        • 会员折扣
          该会议支持会员折扣
          具体折扣标准请参见plus会员页面
        • 会员返积分
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        • 会员积分抵现
          根据会员等级的不同,每抵用1元可使用的积分也不一样,具体可参见PLUS会员页面。 仅PC站支持。

        主办方没有公开参会单位

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